薄膜應力及（jí）基底翹曲測試（shì）設備
FSM 500TC 200mm 高溫應力測試係（xì）統可以（yǐ）幫助研發和工藝工程師評估薄膜的熱力學性.....
反（fǎn）射膜厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
貴（guì）金屬檢測（cè）
貴金屬檢測其分析方法是具有能量分辨率的X射線探測器同時探測樣品所發出的各種能量特（tè）征X射線,.....
TXRF全反射X射線熒光光譜儀（yí）S4 TSTAR
X射線熒光（XRF）光譜法在多個行業中被廣泛用於對固體和石油化工樣品進行元素（sù）分析（xī），檢測限值.....
納米壓痕儀/納米（mǐ）力學測試係統 Hysitron TI 980
TI980是多樣化的納米（mǐ）力學表征工具，在納米（mǐ）力學（xué）表征中提供高水（shuǐ）平的優異性能、增（zēng）強功能及多樣.....
晶圓厚度測量係統（tǒng）
FSM413回波探頭傳感器使用具（jù）有紅外（IR）幹涉測量技術
1500V光伏（fú）組串檢（jiǎn）測儀
新款太陽能（néng）光（guāng）伏功效檢測儀 Solar Utility Pro把（bǎ）光伏檢測提高到更高檢測水平（píng）。
反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測（cè）厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
直（zhí）讀（dú）光譜儀
台式直讀光譜儀是一款具備技術靈活性和操（cāo）作便利性的火花直（zhí）讀光譜儀（yí）.采用通道光電倍增管技（jì）術,數.....
移動式微區XRF元素成（chéng）像光譜儀 M6 JETSTREAM
高分辨率、快速成像、大（dà）麵積（jī）微區XRF成像光譜儀
I-V 曲（qǔ）線測（cè）試儀（yí）
PV200為光伏係統提供了一個測試及診（zhěn）斷解決方案
反射膜（mó）厚儀
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀（yí）可以用於測（cè）量一些可見（jiàn）光和紫外光無法使用的應用領域
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