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TXRF全反射X射線熒光光譜(pǔ)儀S4 TSTAR

更新時間(jiān):2020-08-12

產品品牌:Bruker

產品型號:S4 TSTAR

產品描述:X射線熒光(XRF)光譜法在(zài)多個行業中被廣泛用於對固體和石油化工樣品進行元素分析,檢(jiǎn)測限值低於PPb 量級。

S4 TStar — TXRF全反射X射線熒光光譜儀
       數十年來,X 射線熒光(XRF)光譜法在多(duō)個行業中被廣泛用於(yú)對固體(tǐ)和石油化工樣品進行(háng)元素分析,檢測限值低於PPb 量(liàng)級。TXRF 擴展了XRF 的應用範圍,可以分析液體樣品、懸浮液(yè)和膜片中的超微量元素。

優異的樣品(pǐn)通用性
S4 TStar 是一種通用性很強的(de)工具(jù),可以分析不同反射載體上的多種(zhǒng)類型的樣(yàng)品。

ICP 隻能分析完全溶(róng)解的液體樣品。


圖一:30 毫米石英片:對液體、固體和(hé)懸浮液進行元素分析
圖二:2 英寸晶片:汙(wū)染分析、深度剖析和材料科學研究
圖三:顯微鏡載玻片:臨床和生物學樣品,直接分析細胞培養物、塗片和(hé)切片
圖四(sì):矩形載體:尺寸小於54 毫米,用(yòng)於膜片(piàn)、濾片、納米顆粒層
                            定製的反射介質(zhì)

 

行業應用:

·  藥品
檢測活性藥物成分中的催化(huà)元素(sù):液體或丸粒中的鉛含量小於(yú)0.1 / 0.5ppm
·  食品
糧農組織和世衛(wèi)組(zǔ)織的食品標準(zhǔn):大(dà)米中的砷含量小於10 / 40ppb。
·  環境監測
環境監測:地(dì)表(biǎo)水,廢(fèi)水、汙泥和核(hé)廢液中的汙染物含量小於1 / 10ppb。

 

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