反射膜（mó）厚儀
反射膜厚（hòu）儀是（shì）一種非接觸式、快速的光（guāng）學薄膜厚度（dù）測量技術。
反（fǎn）射膜厚儀
MProbe Vis薄膜測厚儀對大部分透光或（huò）弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的（de）被測量。
反射膜（mó）厚儀
大部分（fèn）透光或弱吸收的薄膜均可以快（kuài）速且（qiě）穩（wěn）定的被測量。
反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大（dà）部（bù）分透光或弱吸收的薄膜均（jun1）可以快速且穩定的被測（cè）量。
反（fǎn）射膜厚儀
采用近（jìn）紅外光譜（pǔ）(NIR)的測厚儀可以用於測（cè）量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域
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