
反射膜厚儀
反射膜(mó)厚儀是一種非接觸式、快速的光(guāng)學薄膜厚度測量技術。
反射(shè)膜厚儀
MProbe Vis薄(báo)膜測厚儀對大部(bù)分透光或弱吸收的薄膜均(jun1)可以快速(sù)且穩定的被測量。
反射膜厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜(mó)均可(kě)以快速且穩定的被測(cè)量。
反射膜厚儀
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以(yǐ)用於(yú)測(cè)量一些可見光和紫外光無法使用的應用(yòng)領域
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