反射膜厚儀
反射膜（mó）厚儀是一種非接觸式、快速的光（guāng）學薄膜厚度測量技術。
反射（shè）膜厚儀
MProbe Vis薄（báo）膜測厚儀對大部（bù）分透光或弱吸收的薄膜均（jun1）可以快速（sù）且穩定的被測量。
反射膜厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測（cè）厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜（mó）均可（kě）以快速且穩定的被測（cè）量。
反射膜厚儀
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以（yǐ）用於（yú）測（cè）量一些可見光和紫外光無法使用的應用（yòng）領域
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