布魯克BRUKER  X射線衍（yǎn）射XRD

D8 ADVANCE

D8 ADVANCE 是一款基（jī）於D8衍射儀係列平台的X射線衍射儀器，是所（suǒ）有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，能夠輕鬆適應各種分（fèn）析（xī）需（xū）求。設備具有更高的計數率、動（dòng）態（tài）範圍和能量分辨率，在幾乎所有維度都具有非常優質（zhì）的數據質（zhì）量。

采用了開放式設計，並具有不受約束的（de）模塊化特性以及更好的用戶友好性、操作便利性以及安全操作性，≤0.01°2Ɵ的峰位精度，為儀器的幾何尺寸和波長提供整個角度範圍內的對準保證。

麵向未來的X射線衍射解決方案

D8 ADVANCE非常適合於X射線粉末衍射（shè）和散射應用，包（bāo）括典型的X射線粉末衍射（XRD）、對分布函數（PDF）分析以及小角X射線散（sàn）射（SAXS）和廣角X射（shè）線散射（WAXS）等。

由（yóu）於具有出色的適應能力，僅使用D8 ADVANCE，您就可對（duì）所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物（wù）。

無（wú）論是新手用戶還是專家用戶，都可簡（jiǎn）單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的：配置儀器時，免工具、免準直，同時還受到自動化的實（shí）時組件識別與驗證的支持。

更重要的是，布魯（lǔ）克公司（sī）能夠為儀器的幾何（hé）尺寸和波長提供整個角度範圍內（nèi）的對準保證。

TWIN / TWIN 光路

布魯克的TWIN-TWIN光路設計有效簡化了D8 ADVANCE的（de）操作，使之能適用於多種應（yīng）用和樣品類（lèi）型。為便於（yú）用戶使用，該係統可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該係統無需人工幹預，即（jí）可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、塗層和薄膜的平行光束幾（jǐ）何以及它們之間進行（háng）切換，能夠在環境下和非（fēi）環境下對包括粉末、塊（kuài）狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在（zài）內的多種類型的樣品進行分析。

動態光束優化（DBO）

布魯克的DBO功能（néng）為X射線衍射的（de）數據質（zhì）量樹立了全新的重要基準，自動獲取粉未數據。隻需輸入（rù）樣品尺寸，DBO便會對馬達（dá）驅動發散狹縫、防散射屏和探測（cè）器窗（chuāng）口進行動（dòng）態調整。

馬達驅動發散狹縫、防散射屏和可變探測（cè）器窗口的自（zì）動（dòng）同（tóng）步功能，可為您提供更優質的數據質量——尤其是在低2Ɵ角度時。除此之外，LYNXEYE全係列探測（cè）器均（jun1）支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和（hé）LYNXEYE XE-T。

LYNXEYE XE-T探測器

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE係（xì）列探測器的旗艦產品。它是一款可采集0D、1D和（hé）2D數據的能量色散探測器，適用於所有波長（從Cr到Ag），具有（yǒu）更高的計（jì）數率和更佳的角分辨率，是X射線衍射和散射應用的理想選擇。就0D、1D和2D數據采集而言（yán），LYNXEYE XE-T具有（yǒu）出色且始終有效的能量鑒（jiàn）別能（néng）力，同時也不存在典型的二級單色器的信號損失。

LYNXEYE XE-T具（jù）有優於380 eV的能（néng）量分辨率，是市麵上性能卓越的熒光過濾器探（tàn）測器係統。借助它，用（yòng）戶可（kě）在零強度（dù）損失下對由銅輻（fú）射激發的鐵熒（yíng）光進行100％過濾（lǜ），而且（qiě）無需金屬濾波片，因此數據也不會存（cún）在偽（wěi）影，如殘餘Kß和吸收邊。同樣，也無需用到會消除強度的二級單色器。

布魯克（kè）提供LYNXEYE XE-T探（tàn）測器保證：交貨（huò）時保證（zhèng）無壞道！

更多的特點和優勢

·        DAVINCI設計：高精度的快速鎖扣機製、光學器件采用（yòng）三點支撐安裝，加上具（jù）有組件識（shí）別功能的ID芯片，因此具有失效保護和組（zǔ）件更換時免於光路對準的優點。

·        TRIO光路與TWIN光路：可在多達6種不同的光束幾何間自動進行切換（huàn），無（wú）需人為幹預。

·        EIGER2 R 探測器：具有全景索（suǒ）拉狹縫組件和真空傳輸管道，用於0D、1D和2D數據采集

·        合規（guī）實驗室的解決方案：符合cGAMP、21CFR Part11和EU Annex11的解決方案以及設備認證服務。

·        儀器質量與數據質量：提供儀器準（zhǔn）直保證，確保整個係統(並非僅是單個組件)都符合《儀器性能驗（yàn）證手冊》所述的高標準。

D8 ADVANCE應用 - 粉末衍射

X射線粉末衍（yǎn）射（XRPD）技術是重要的材料表征工具之一（yī）。粉末衍射圖中的許多信息，直接源（yuán）於物相的原子排列（liè）。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件（jiàn）的支持下，您將能簡單地實施常見的XRPD方法：

·  鑒別晶相和非晶相（xiàng），並測定樣品純度

·  對多相混合物的晶相和非晶相進行定量（liàng）分（fèn）析

·  微觀結構分析（微晶尺寸、微應變、無序…）

·  熱（rè）處理或（huò）加工製造組件產生的大量殘餘應力

·  織構（擇優（yōu）取向）分析

·  指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修

D8 ADVANCE應用 - 對分布函數分（fèn）析

對分布函數（shù）（PDF）分析是一種分析技術，它基於Bragg以及漫散射（“總散射”），提供無序材料的結構信息。其中，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結構的信息（xī）（即長程有序），通過（guò）漫散（sàn）射，表征其局部結構（即短程有序）。

就分析速度（dù）、數據質量以及對非晶、弱晶型、納米晶或納米結構材料的（de）分析結果而言，D8 ADVANCE和TOPAS軟件代表了市麵上性能更（gèng）佳的PDF分析解決方案：

·  相鑒定

·  結（jié）構測定和精修

·  納米粒度和形狀

D8 ADVANCE應用 - 薄膜和塗層

薄膜和（hé）塗層分析采用的原理與XRPD相（xiàng）同，不過進一（yī）步提供了光束調節（jiē）和（hé）角（jiǎo）度控製功能。典（diǎn）型示例包括但不限於相鑒定、晶體質量、殘餘應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和塗層（céng）進行分析時，著重對厚度在nm和µm之間（jiān）的層狀材料進行特性分析（從（cóng）非晶和多晶塗層到外延生長（zhǎng）薄膜）。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分（fèn）析：

·  掠入射衍射

·  X射線反射法

·  高分辨率X射線衍射（shè）

·  倒易空間掃描

D8 ADVANCE應用（yòng） – 應用（yòng）範（fàn）圍

相（xiàng）鑒定：材料可靠性鑒別(PMI)更為常見，這是（shì）因為其對（duì）原子結構十分（fèn）靈敏，而這無法通過元素（sù）分析技術實現。

定量相（xiàng）分析：方（fāng）法包括EVA軟件半定（dìng）量分析、DQUANT軟件麵積法分析和（hé）DIFFRACTOPAS軟（ruǎn）件全譜擬合分析法。

配對（duì）分布函數生（shēng）成和完善：DIFFRAC.TOPAS 整合了獨特的 PDF 生（shēng）成和細（xì）化方法，是真正的“原始數（shù）據到 PDF 細化（huà） ”解決方案。

非環境XRD：可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線並將其（qí）與測量（liàng）同步，然後可以在DIFFRAC.EVA中顯示結果（guǒ）。

織構分析：在DIFFRAC.TEXTURE軟件（jiàn）中，使用球諧函數和組分分析方法，生成極圖、取向分布函數（shù）(ODF)和體積定量分析。

殘餘應力分析：在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘餘應力，通過sin2psi方法，使用Cr輻射測量得到。

X射線反射法（XRR）：在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品的薄膜厚度、界麵粗糙度和密（mì）度進（jìn）行XRR分析

小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2 R500K通過（guò）2D模式收（shōu）集的NIST 標樣SRM 80119nm金納米顆粒進行粒（lì）度分析。

相鑒（jiàn）定 & 殘餘應力（lì）分析

D8 ADVANCE應用 – 行業應用

·        金屬行業

在金屬樣品中（zhōng），殘餘奧氏體、殘餘應力和織構檢測是其中常見的檢測（cè）項目，檢測目的在（zài）於確保（bǎo）產品符合用戶的需（xū）求（qiú）。

·        薄（báo）膜計量（liàng）

從微米厚度的塗層（céng）到納米厚度的外延膜的樣（yàng）品，都（dōu）受益於用於評（píng）估晶（jīng）體（tǐ）質量、薄膜厚度、成分外延排列和應變鬆弛的一係列技（jì）術。

·        建築材料

從原材料到質控，XRD在確保目標產品(包括熟（shú）料分析和反（fǎn）應監控)高產方麵發（fā）揮著關鍵作用。

·        藥物行業

從藥（yào）物發現到藥物生產，D8ADVANCE為（wéi）藥品的整個生命周期提供（gòng）著支持，其中包括結（jié）構測定、材料可靠鑒別、配方定量和非環境穩定（dìng）性（xìng）測試。

·        化工（gōng）製品/顏料

這些行業通常需要（yào）對大量工業（yè）材料進行新結構（gòu）的測定或混合物的定量分析，這其中包括對主要相組（zǔ）分和次要相組分（fèn）的分析。

·        儲能/電池

利用D8 ADVANCE，可以在原位循環條件下測試電池材（cái）料，從而可以直（zhí）觀地獲取（qǔ）儲能（néng）材料在晶（jīng）體結構和相組分方麵的不斷變化過程。