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原子力顯微鏡

更新時間:2023-03-28

產品品牌:Bruker

產品型號:MultiMode8

產品描述:布魯克(kè)原子(zǐ)力顯微鏡應用靈活性,高分辨率成像和(hé)定量的材料性能成(chéng)像.提供多模塊功能的(de)MultiMode;發表(biǎo)論文AFM;峰值力模式實現

    布魯克原子力顯微鏡應用靈活性

    ·高分辨率成像(xiàng)和定量的材料性能成像。

    ·提供多模(mó)塊(kuài)功(gōng)能的MultiMode

    ·發表論文AFM

    ·峰值力模式實現

 

    定量成像模式(shì)

    ·Bruker的新型成像模式PeakForceQNM,可以對材料納米尺度的力(lì)學性質進行定量檢測,在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘(zhān)附力和彈性模量圖像。與傳統的相位成像和某些廠家的(de)多頻技術不同的是,使用PeakforceQNM模式可(kě)獲得、定量的實驗數據。

 

    ·PeakForceTUNA模塊,能夠定量測量樣品的(de)導電特性,這(zhè)是傳統的導電模式所不能實現的。

    ·推出ScanAsyst-HR,可以在MultiMode8上實現(xiàn)快速掃描模式。與傳統的AFM相比,在其速度(dù)高6倍時仍不損失圖像分(fèn)辨率(lǜ),獲得分辨的(de)AFM圖像。掃描速度,可比傳統(tǒng)的AFM高20倍(bèi)。

 

    布魯克原子力顯微鏡(jìng)具有高的分辨率和測試性能

    ·迄今(jīn)為止,利用(yòng)MultiMode係列(liè)原子力顯微鏡,已發表大量高(gāo)水平論文,幫助科學家們解決了

    ·諸(zhū)多重大前沿科研問題。MultiMode8采用(yòng)結構緊湊的剛性設計,即使樣品的測試難度大,測試條件苛刻,也能實現低係統噪音,獲(huò)得(dé)分辨率的圖像。

    ·NanoScope®V控製(zhì)器提供業界係統噪音和帶寬(kuān),提高了數據分析能力,適用於更多(duō)的研究領域。

    ·Bruker的PeakForceTapping®技(jì)術,控製針尖與樣品的作用力,可遠低於TappingMode所需(xū)要的力。

 

    適用於多研究領(lǐng)域

    ·大氣或者溶液環境中,MultiMode8能夠完成樣品檢測(cè),以其分辨率和(hé)功能(néng),被廣泛應用於物理、化學、材料、電子以及生命科學等(děng)各個領域。

    ·在MultiMode8上可選配溫(wēn)度調節和環境控製附(fù)件。加熱到250°C,冷卻(què)至-35°C,或在水蒸氣和氧氣含量小於1ppm的手套箱中,都可以實現(xiàn)敏(mǐn)感樣品的檢測和成像。

    ·MultiMode8基本操作模式的基(jī)礎上(shàng)選配不同功能的附件,可在高分辨成像的同時,獲得樣品的力學、電學(xué)、磁學、熱力學等各項性能指標

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