更（gèng）新時間：2020-08-12
產品品牌：Bruker
產品型號：Tracer
TRACER 5i是Bruker公司2016年底新發布的科研型手持式XRF設備，也稱便攜式XRF。是（shì）繼原有Tracer家族係列（liè）後, Bruker發布的手持式XRF產品。其性能是市售一般手持式（shì）XRFwu法比擬的, 在歐美藝術界/考古學/鑒定/修複行業中 受（shòu）到各大博物館青睞。
技術特（tè）點及其優勢：
· TRACER 5i是（shì）手持式XRF外（wài）觀（guān）設計，適合（hé）各種場所；同時，又（yòu）有（yǒu）分（fèn）析軟件，具（jù）有（yǒu）實驗室級別XRF分析儀的功能和準確性。
· 光斑用戶可（kě）調：有3mm和8mm兩種孔徑的準直器，用（yòng）戶可以自行（háng）更換。
· 用戶可以自己製作/更換濾片以元素測量的靈敏度；Bruker提供工具用於製作濾片。
· 優良的（de）光束（shù）品質（zhì）：專（zhuān）有的SharpBeam™光束優化技術，在低功率下也有優良表現
· 具（jù）有NASA技術的真空泵，可以在設備內部、測量的光路區域形成真空，設備對輕質（zhì）元素如Na、Mg、Al等的（de）靈敏度，適合測量玻璃、陶瓷等材質；由於真空是在設備內部的，並不會對被測物體造成傷害，如出土的絲（sī）綢、紙（zhǐ）張等材質。真空泵上有真空度顯示，方（fāng）便用戶識（shí）別。
· 元（yuán）素檢測範圍從Na（11） - U（92）, 限條（tiáo）件下（xià）可偵測到F（9） (是（shì）市售靈敏便攜式（shì）XRF分析儀)。 TRACER 5i專門優化設計（jì）了氣體流動通道 - 可提供氦（hài）氣（He）吹拂, 或搭配其（qí）它氣體來協助分析。
· 控製的多樣性：可（kě）以（yǐ）使（shǐ）用設備內建的（de）PDA界麵控製，也可以使用PC或者平板（bǎn）電腦連接控製。
行業應用：
金屬分析,廢料分揀（jiǎn）,材料可靠性鑒別,采礦與探礦,環境與土壤篩選,藝術與考古,研究與教學
目前在國（guó）外有很（hěn）多大博物館、大學、考古研究機構使用它，請參看如下：
1.National Gallery of Art Washington DC USA美國華盛頓（dùn）國（guó）jia藝術館（3台）
2.Smithsonian Institution USA and Panama美（měi）國和巴拿馬史密森學會（8台）
3.Getty Museum Los Angles USA美國洛（luò）杉磯蓋蒂博物館（3台（tái））
4.Metropolitan Museum of Art New York City USA美國紐約市大都會藝術（shù）博物館（3台）
5.The British Museum London England 英國倫敦大英博物館（1台）
6.Historic Scotland Edinburg Scotland蘇格蘭愛（ài）丁堡曆史蘇格蘭（1台）
7.American Natural History Museum New York City USA美國（guó）紐約市紐約自然曆史博物館（2台）
8.National Gallery of Art Canberra Australia 澳大利（lì）亞堪培拉國家藝術館（2台）
9.C2RMF Laboratoire de recherche des musées de France (LRMF) Paris France法國巴黎羅浮宮（1台）Tracer III-SD system
電話：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
郵箱：info@qianmengwl.cn
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