17c永久隐藏入口儀器(上海)有限公司

您當前的所在位置為:首頁>產品中心>矽片(piàn)表麵形貌/晶圓測量>矽片表麵形貌測量(liàng)
相關文章

矽片表麵(miàn)形貌測量(liàng)

更(gèng)新時間:2023-03-28

產品品牌:

產品型號(hào):VIT係列

產品描(miáo)述:矽片表麵(miàn)形貌測量,材料表麵形貌分析(xī)

矽片表麵(miàn)形貌測量VIT係列

NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth,  bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile

3DIC TSV and BWS TTV矽片表麵形貌測量
Film Stress薄膜應力量測儀
FEOL Electrical Characterization 電學(xué)特性
Thin wafer metrology 晶圓測(cè)量學
Film Adhesion漆膜(mó)附著力測試NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth,  bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height

-Edge trim profile

在線留言
聯係我們

電話:86-021-37018108

傳真:86-021-57656381

郵箱:info@qianmengwl.cn

地址:上海市鬆(sōng)江區莘(shēn)磚公路(lù)518號鬆江高科技園區28幢301室

Copyright © 2013 17c永久隐藏入口儀器(上海)有限公司 版權所有 備案號:滬ICP備10038023號-1

滬公網安備 31011702008990號

网站地图 17c永久隐藏入口-www.17.com嫩草影院-www.17c久久久嫩草成人-.17c嫩嫩草色视频蜜 %A