1.設備應用簡（jiǎn）介
       Bruker M4 Tornado 微區X射線熒光光譜儀是樣品成分分（fèn）析、成分（fèn）分布規律研究的新利器。成分的分布規律研（yán）究可以給學者從宏觀、微觀、微宏觀結合（hé）等多個角度提（tí）供新的研究思路。目前該設備已經在植物環境、科技考（kǎo）古、地球科學、材料（liào）科學、生物工程、刑事偵查等領域有著諸多的應用案例。該設備在（zài）國內外（wài）有專業的應用開發人（rén）員，專注於新應用領域的開發。
2.主（zhǔ）要功能：
       Bruker M4 Tornado可以對大塊、不均勻、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行（háng）高靈敏度的、非（fēi）破壞性元素分析（C6-Am95）。采（cǎi）用（yòng）多導毛細管聚焦鏡將激發光聚焦到非常小的區域（yù） （<20μm），以獲得良好的（de）空間分辨率，進行元素成像分析。不同類型的樣品都可（kě）以通過簡單的樣品製備甚至不（bú）製備直接進行分析。設備輸出（chū）高精度的元素分（fèn）布圖，分辨率可高達4000萬像素，7168*5582  pixels。
3.應用案例

植物環（huán）境應用
      微區X射線熒光光譜儀設備可以快（kuài）速的對不同種類的動（dòng）、植物樣本進行無損掃（sǎo）描，適時觀測植物（wù）樣品的根、莖、葉、花（huā）、種子中元素遷（qiān）移過程，不同（tóng）階段元素含量變化以及元素成像分（fèn）析;可同時開展土壤（rǎng）重金屬汙染監控，植物營養學及抗（kàng）逆性研究，昆蟲形態學研究（jiū），生物組織相容性（xìng）研究等。
      利用微區（qū）XRF分（fèn）析水稻葉（yè）片，通過野生型和多個突變體的P元素運移富集規律，確定了幾種SR蛋白作為磷營養元素的關鍵調節因子，並顯示了三（sān）個SR蛋白編碼基因調控水稻磷的（de）吸（xī）收和莖葉間的遷移（yí）。

科技考古
       考古研究中，X射線熒光光譜主要是測定（dìng）古物中的成分，進而推斷和判斷當時的人類社會文化。微區X射線熒光光譜分析不僅提供定量數據還可以直觀給出成分分布數據。主要應用於陶瓷、青銅器、金銀器（qì）、古建築、字畫顏料、古建築等文物的成分分析。
       利用微區XRF分析新石器時（shí）代早期的白陶，從白陶樣品斷麵 Ca 元（yuán）素分布看出白陶內壁（bì）有明（míng）顯的結層，鈣元（yuán）素的富集（jí）區（qū）域正好對應於樣品內壁的結層位置，說明這層殘（cán）留物應該是（shì）富含鈣質的水垢（gòu）類物質。這揭示了白陶在新石器已經（jīng）作為實用器。

地球科學領域
       微區X射線熒光（guāng）光譜儀是（shì）地球化學方向的重要分析儀器（qì），主要用（yòng）於岩（yán）石、隕石、化石等樣品進行無損高（gāo）速掃描（miáo）與元素分布成像（xiàng），以及礦物識（shí）別、定量及分類。
       利用微區XRF分（fèn）析地質薄（báo）片或礦石原石，可以獲取薄片表麵的元素分布規律，同時可以利用專業軟件，獲取礦物分布的信息，從而（ér）獲得樣品成分分布的宏觀規律。

礦物（wù）分布圖：

材料科學
        應用於薄膜（mó）鍍（dù）層厚（hòu）度及均勻性研究；納米薄膜中金屬顆粒摻雜的成分以（yǐ）及分布成像；還可以（yǐ）對金屬（shǔ）表麵（miàn）離子腐蝕、塗層工藝元素分布進行識別；合金（jīn）樣（yàng）品成（chéng）分梯度的表征；探測器芯片等電子部（bù）件的質量控製與故障檢測，量化觸點與（yǔ）焊接（jiē）點的元素識別與（yǔ）失效性分析。
       利用微區XRF分析混凝土，可以清晰的看出Cl元素的分布及（jí）侵入深度。可以根據元素的分布情況獲取有害元素的種（zhǒng）類（lèi）及侵蝕情況，對材料的結構（gòu）性進行（háng）評估，以及結（jié）構強度修（xiū）複提供數據支撐。

生（shēng）物（wù）工程
       應（yīng）用於生物組織切片（piàn）；植入（rù）物與生物（wù）組織相（xiàng）互影響元素滲透分（fèn）布成像；還可以仿生學材料的有害物質進行分析（xī）等。
利用微區XRF分析人工（gōng）韌帶，將人工韌帶植物生（shēng）物體內（nèi）一段時間後取出測試，根據Ca元素和（hé）Cl元素的分布圖，可以看出人工韌帶中的礦物沉積 以及（jí）是否會（huì）有一些雜質元素和副產物的產生。

刑偵公安
       利用微區XRF分析對衣（yī）物上彈孔進行射擊殘留物分析，殘留物大部分顆粒很小，無法直接檢測（cè）。理想方法是將這些（xiē）顆粒物（wù）的分布進行高分辨（biàn）率（lǜ）成像。根據Cu、Pb、Ba元（yuán）素的（de）成像（xiàng），可以獲取彈藥種類（lèi）、距離和射擊角度等相關數（shù）據。